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五金高温低温测试方法高低温XK8100星空传媒箱：
1.预处理：将被测样品放置在正常的XK8100星空传媒大气条件下，直至达到温度稳定。
2.初步检测：将测试样品与标准要求进行比较，满足要求后直接放入高低温XK8100星空传媒箱。
3、样品断电时，XK8100星空传媒样品应按标准要求放置在XK8100星空传媒箱内，XK8100星空传媒箱（室）内温度应降至-50℃，保持4小时；不要在样品通电状态下进行低温测试，这一步非常重要，因为芯片本身在通电状态下会产生 20℃因此，在通电状态下，通常更容易通过低温XK8100星空传媒，必须先冻透，再通电XK8100星空传媒。
4、在低温阶段结束后5min将XK8100星空传媒样品转换为已调整的样品90℃保持在高温XK8100星空传媒箱(室)内4h或者直到测试样品达到温度稳定，与低温测试相反，加热过程不断电，芯片内部温度保持高温，4小时后执行A、B测试步骤。
5、进行老化测试，观察是否存在数据对比错误。
6、高温和低温XK8100星空传媒分别重复10次。
7、重复上述实验方法，以完成三个循环。根据样品的大小和空间的大小，时间可能略有误差。
8、恢复:XK8100星空传媒样品从XK8100星空传媒箱中取出后，应在正常XK8100星空传媒大气条件下恢复，直至XK8100星空传媒样品达到温度稳定。
9、后检测：根据标准中的损伤程度等方法评估检测结果。
如果测试过程中没有正常工作，则视为测试失败。
